The University of Sydney, Australia

报告摘要：

叠层衍射成像（Ptychography）是一种基于相干衍射数据的高分辨率计算成像技术，其通过扫描样品和记录重叠区域的衍射图样，结合先进的相位恢复算法，实现对样品结构的高精度重建。该技术突破了传统显微镜光学分辨率的限制，可用于揭示纳米尺度材料、半导体器件和生物样品的微观结构。本报告将简要介绍悉尼大学在叠层衍射成像领域的研究背景及最新科研进展.

报告人简介：

殳峰是悉尼大学电气与计算机工程学院副教授。他于2002年在上海交通大学获得信息与控制工程系学士学位，并在新加坡南洋理工大学和澳大利亚墨尔本大学分别获得电气与电子工程硕士及博士学位。在重返学术界之前，他曾在微电子行业（例如微电子研究所IMEC、全球领先的半导体设备供应商荷兰ASML）工作了十多年。他目前的研究兴趣包括先进量测与检测，超精密测量及运动控制及相关技术在先进材料和生命科学等领域的应用。

地点：中科院物理所M253会议室

邀请人：陈震 特聘研究员（82649878）

联系人：陈震 zhen.chen@iphy.ac.cn 010-82649878